通过抑制5G NR接收机中的系统噪声实现精确EVM测量
在5G新空口（NR）接收机中测量被测设备（DUT）的真实性能，需要测试系统能够抑制系统噪声，从而在更高频率和更宽带宽下获得更低的误差向量幅度（EVM）底限。测试系统的残余EVM噪声底限必须足够低，以避免成为主导误差源，或掩盖DUT的真实性能表现。
测试系统应包含两台配备信号分析软件的信号分析仪，能够比较两台设备上测得的EVM值，从而通过数学方法消除测试系统引入的噪声。该方法称为交叉相关EVM（ccEVM），可为5G NR频段1（FR1）和频段2（FR2）应用提供精确可靠的被测设备EVM测量结果。
5G NR接收机测试解决方案
在5G NR系统中为被测设备（DUT）精确测量EVM，需要采用能抑制系统噪声的测试系统。是德科技5G NR接收机测试解决方案将两台N9042BUXA 信号分析仪（频谱分析仪）与N9085EM0EPathWave 多点触控应用软件相结合。 交叉相关EVM方法通过比较两台信号分析仪的EVM测量结果，有效消除测试系统引入的噪声。该方案可在高达110 GHz的高频段及4 GHz宽带宽条件下，准确测量DUT在5G NR FR1/FR2及更高频段的应用性能。
验证各元件间传感器的均匀性
电容式传感器广泛应用于现代电子系统中，包括触摸界面、接近感应、工业控制和物联网设备，在这些领域中，准确且可重复的传感至关重要。然而，由于制造公差、材料不一致或布局差异导致的传感器元件间电容值波动，会显著影响传感器的稳定性、测量精度以及整体系统性能。 进行电容式传感器测试的工程师必须解决这些差异，以防止出现误触发、漂移以及复杂的重新校准循环等问题，特别是在半导体和嵌入式系统中使用的多通道或高密度传感器阵列中。
为了确保设备可靠运行，工程师们依赖于精确的电容验证和传感器一致性测量技术，这些技术能够对每个传感元件进行详细的特性分析。通过使用高精度LCR表系统地测量各通道的电容，团队可以在开发周期的早期阶段识别偏差、量化变化趋势并验证设计完整性。 这种方法支持稳健的传感器校准策略，完善了可测试性设计（DFT）方法，并确保传感器在各种环境条件和不同生产规模下保持一致的性能，从而最终减少现场故障并提升终端产品的质量。
电容式传感器一致性解决方案
要对电容式传感器进行精确的验证，必须以高分辨率和高重复性测量多个通道上的微小电容变化，同时还要考虑寄生参数和环境影响。工程师必须执行一致的多点测量，分析变化趋势，并确保所有传感器元件的校准精度。该解决方案利用精密LCR表配合进阶 软件，可实现高精度的电容式传感器测试，并对多个传感器元件进行全面的电容验证。 工程师能够以高分辨率执行快速、可重复的传感器一致性测量，捕捉那些影响性能的细微电容差异。自动化测试功能允许用户扫描多个通道、记录测量数据，并进行统计分析，以实时检测异常值和变化模式。 凭借集成的校准工作流和数据驱动的洞察，该解决方案可帮助工程师优化传感器校准、降低测量不确定度，并确保所有传感器元件的电气特性保持一致。它同时支持研发验证和大批量生产测试环境，为传感器验证提供可扩展且可重复的流程。通过提高测试覆盖率并加速验证周期，企业能够增强产品可靠性、提高生产良率，并在物联网、工业及半导体市场的电容式传感应用中提供稳定的性能表现。
参见电容式传感器一致性解决方案的框图
